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464 欧气满满的学妹,现实叠层器件效率突破16%!(2/6)

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二元coi8dfic体系,经过这些天的摸索,器件性能如同坐火箭般的向上蹿升。

现在的效率,已经正式突破了16%的大关——

达到了16.22%!

两个体系性能上的差别,主要来自于短路电流密度。

三元idic-m/二元coi8dfic体系的短路电流密度可以达到14.32毫安每平方厘米,相较于三元idic-m/二元ieico-4f体系的13.98毫安每平方厘米,提升了大约2.4%。

而两者在开路电压和填充因子上的变化并不大。

最终,这种差异反应在器件光电转换效率上,就是从后者的15.91%变化到前者16.22%,刚好也是提升了2%左右(相对数值),与短路电流密度的提升幅度相当。

虽然相对2%的提升,看似很小,但到了最后效率冲刺的阶段,每一点点细微的优化都是非常关键的。

拿到数据后,许秋开始探究这个实验现象背后的原因,看看能不能找到合理的解释,以及进一步优化的空间。

一方面,许秋认为两种叠层体系短路电流密度的变化,可以归因于原本二元单结体系的差异。

虽然coi8dfic和ieico-4f两种材料的禁带宽度相当,但是在实际制备器件的时候,形成的有效层薄膜的显微形貌也会对短路电流密度造成影响。

这就导致在二元单结的体系中,ce10:coi8dfic体系的短路电流密度,就比ce10:ieico-4f要高一些,前者可以达到26毫安每平方厘米左右,而后者只有23-24毫安每平方厘米。

现在把它们用于叠层器件中的顶电池,大概率也会“遗传”一部分它们在二元单结体系时的特性。

另一方面,李丹课题组另外一篇基于coi8dfic三元体系的文章,给了许秋进一步优化的思路。

叠层器件之前引入cbm,并不是为了提高对应子电池的器件效率,而是为了方便对叠层器件各个子电池的光吸收性能进行调控,让顶电池和底电池的短路电流密度相匹配。

换言之,cbm到底放在底电池中,还是放在顶电池中,其实并不是很重要。

现在,最优的叠层体系是三元idic-m/二元coi8dfic体系。

根据李丹课题组报道的结果,基于coi8dfic的三元体系,器件效率高于coi8dfic二元体系。

而自己组里的实验结果表明三元idic-m体系的性能,和二元idic-m体系的性能并无明显差异。

因此,许秋产生了把底电池中的cbm转移到顶电池中,也即构筑二元idic-m/三元coi8dfic体系的想法。

反正idic-m体系离开cbm照常可以运转,而coi8dfic体系加入cbm的话,说不定就可以“更上一层楼”。

这或许是一个可行的方案。

当然,因为现实中很多时候都是混沌模型,变量非常多。

理论上可行的思路,实际上到底行不行,还是需要用实践来检验。

于是,许秋把这个实验思路丢给了模拟实验室,让模拟实验人员代为摸索。

现在是早上八点多,许秋还停留在被窝中。

因为日子已经到了十二月底,正式进入冬天。

魔都的冬天还是比较冷的,又湿又冷,寝室为了省电没有开空调,起床确实是一件非常需要勇气的事情。

其实,以许秋现在的经济实力,还是可以实现“空调自由”的。

但小时候许秋被穷养惯了,长大了一时半会儿还真的挺难养成花钱大手大脚的习惯,总是能
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